將掃描測試進行可測*綜合的優點是不僅可以進行器件的功能測試，還可以進行互連測試和板級的器件存在*測試。
把QGM(QualityGoalMetric)模型引入到軟件項目進度的度量過程中,使得軟件過程的進度具有可控*、可測*。
這種暗藏的複雜*會影響函數的可靠*和可測*嗎？
提出了一種基於自由二元判決圖轉換的可測*優化方法。
從可測*設計角度討論了資訊安全處理芯片的芯片級測試控制器的設計以及相應核的可測*設計。
實驗結果表明該方法在可測*改善和功耗優化方面的有效*。
系統級可測*設計主要是將存儲器BIST與ARM核的邊界掃描測試相結合。
內建自測試作爲一種新的可測*設計方法，能顯著提高電路的可測*。
指出了低頻降噪效果的可測*。
