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在讀出電路工藝研究設計方面,主要針對鐵電薄膜的高溫退火與CMOS工藝不相容的問題,採用耐熔金屬進行工藝設計和實驗。
該系統採用大面陣CMOS圖像傳感器作爲成像器件,透過反*鏡掃描進行像移補償的方法,實現無人機飛行狀態時清晰地數字成像。
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