可測試*設計是現代芯片設計中的關鍵環節，針對無線接入芯片的可測試*設計對測試技術有更高的要求。
掃描技術和邊界掃描技術是目前可測試*設計的主流技術，可分別用來解決芯片內部與芯片之間的可測試*問題。
首先對測試技術和可測試*設計的一些方法做出了綜述。
本文提出了一種離散餘弦變換電路VLSI實現的可測試*設計。
本文從可測試*設計的角度出發，討論了測試綜合技術的必要*，以及測試綜合的方法與步驟。
在可測試*設計中考慮功耗的主要原因是數字電路在測試方式下的功耗比系統在正常工作方式下高很多。
在系統芯片可測試*設計中考慮功耗優化問題是當前*上新出現的研究領域。
目前常見的可測試*設計方法主要有改善設計法、結構設計法和邊界掃描測試法等幾種。
此外，發現用二進計數序列作爲測試輸入對於差錯特徵量可測試*設計有一定優點。
結果表明，多信號流圖測試*建模方法在產品的可測試*設計應用中可行、有效。
