闡述了目前超聲測厚儀的一些不足,並在探頭和電路等方面提出了一些改進措施。
本發明提供一種可在各種惡劣環境下對試件厚度進行測量的電磁超聲測厚儀及其測量方法。
本發明還提供一 種超聲測厚儀,該超聲測厚儀包括通路切換電路,設定在發*電路和接收電 路與探頭*座之間。
本發明在同一臺超聲測厚儀上實現單晶探頭測量方式或雙晶探頭測量方式,提高了測試效率。
闡述了目前超聲測厚儀的一些不足,並在探頭和電路等方面提出了一些改進措施。
本發明提供一種可在各種惡劣環境下對試件厚度進行測量的電磁超聲測厚儀及其測量方法。
本發明還提供一 種超聲測厚儀,該超聲測厚儀包括通路切換電路,設定在發*電路和接收電 路與探頭*座之間。
本發明在同一臺超聲測厚儀上實現單晶探頭測量方式或雙晶探頭測量方式,提高了測試效率。