邊界掃描技術作爲一種新興的BIT技術，在工業界內得到了廣泛的應用。
首次採用先進的邊界掃描技術實現了以無打擾的方式完成CPU模組的故障檢測。
一百掃描路徑內置自檢和邊界掃描等
並且目前各大公司生產的超大規模集成電路芯片基本全部具有邊界掃描結構。
邊界掃描設計已逐漸成爲芯片設計中不可或缺的部分，IEEE爲其制定了相關標準，即ieee1149.1標準(也稱爲JTAG標準)。
與邊界掃描技術相比，本系統具有結構簡單、*作時間短、*價比高的特點。
一百掃描路徑、內置自檢和邊界掃描等。
掃描路徑、內置自檢和邊界掃描等。
掃描技術和邊界掃描技術是目前可測試*設計的主流技術，可分別用來解決芯片內部與芯片之間的可測試*問題。
JTAG邊界掃描機制是用於在線導通測試的新技術，利用JTAG可以在數分鐘內查出複雜*件和系統的全部導通故障。
文中介紹JTAG邊界掃描的概念、技術特點，以及在芯片功能測試、系統診斷、*、*能分析和導通測試方面的應用。
