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霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片...

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問題詳情:

霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片的P、Q間通入電流I,同時外加與薄片垂直的磁場B,在M、N間出現電壓UH,這個現象稱爲霍爾效應,UH稱爲霍爾電壓,且滿足霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片...,式中d爲薄片的厚度,k爲霍爾係數。某同學透過實驗來測定該半導體薄片的霍爾係數。

I(×10-3A)

3.0

6.0

9.0

12.0

15.0

18.0

UH(×10-3V)

1.1

1.9

3.4

4.5

6.2

6.8

① 若該半導體材料是空穴(可視爲帶正電粒子)導電,電流與磁場方向如圖*所示,該同學用電壓表測量UH時,應將電壓表的“+”接線柱與_________(填“M”或“N”)端透過導線相連。

② 已知薄片厚度d=0.40mm,該同學保持磁感應強度B=0.10T不變,改變電流I的大小,測量相應的UH值,記錄數據如下表所示。根據表中數據在給定區域內(見答題卡)畫出UH—I圖線,利用圖線求出該材料的霍爾係數爲____________霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片... 第2張V霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片... 第3張(保留2位有效數字)。   

③ 該同學查閱資料發現,使半導體薄片中的電流反向再次測量,取兩個方向測量的平均值,可以減小霍爾係數的測量誤差,爲此該同學設計瞭如圖丁所示的測量電路,S1、S2均爲單*雙擲開關,虛線框內爲半導體薄片(未畫出)。爲使電流從Q端流入,P端流出,應將S1擲向_______(填“a”或“b”), S2擲向_______(填“c”或“d”)。爲了保*測量安全,該同學改進了測量電路,將一合適的定值電阻串聯在電路中。在保持其它連接不變的情況下,該定值電阻應串聯在相鄰器件____________和__________(填器件代號)之間。

霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片... 第4張

霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片... 第5張霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片... 第6張

【回答】

霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片... 第7張M

②如右圖所示,1.5(1.4或1.6)

③b,c;S1,E

霍爾效應是電磁基本現象之一,近期我國科學家在該領域的實驗研究上取得了突破*進展。如圖*所示,在一矩形半導體薄片... 第8張

知識點:專題十三 中學物理實驗

題型:實驗,探究題

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